电气测试-质量与认证-CAX电子
测试标准：《半导体分立器件的测试方法》GJB 128A-1997
描述：
根据元件规格相关的电气特性要求，使用半导体测试设备通过静态、开路、短路参数条件来检测芯片是否坏或损坏。
电气测试设备
电气测试
测试标准：《半导体分立器件的测试方法》GJB 128A-1997
描述：
根据元件规格相关的电气特性要求，使用半导体测试设备通过静态、开路、短路参数条件来检测芯片是否坏或损坏。
电气测试设备
电气测试
